瑞芯智造 納米庫爾特雙通道顆粒分析儀 NanoCoulter G/I/D系列

打破DLS/NTA光學(xué)局限,，媲美電鏡的單顆粒檢測技術(shù)。

產(chǎn)品介紹：

• 超高精準(zhǔn)度

不受樣本的折射率,、 吸光度等光學(xué)性質(zhì)影響,， 顆粒之間無互相影響， 數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確

• 單顆粒檢測

經(jīng)典庫爾特原理,，精準(zhǔn)分析每個(gè)過孔顆粒,， 真正意義上的單顆粒檢測， 對粒徑分布廣的多分散系樣本有更好的測量效果

• 多維度檢測

單次檢測可以得到顆粒粒徑,、 濃度 ,、 zeta電位、 形態(tài)等多維數(shù)據(jù)

• 數(shù)據(jù)更真實(shí)

數(shù)據(jù)不擬合,， 直接測量單個(gè)顆粒的體積粒徑,， 得到樣本所有粒徑濃度分布情況，最真實(shí)的反應(yīng)樣本真實(shí)狀態(tài)

• 超高分辨率

粒徑分辨率可達(dá)1nm, 滿足高精度 的應(yīng)用場景

粒徑 | 媲美電鏡的粒徑測量精度

NanoCoulter測量聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)微球等樣本的平均粒徑與粒徑分布,，其結(jié)果與電鏡 (S E M ) 數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度及精度吻合,。

濃度 | 精準(zhǔn)的濃度測量與重復(fù)性

將樣本梯度稀釋，濃度數(shù)據(jù)線性關(guān)系良好 ,，且與理論濃度相一致 (固含量理論計(jì)算) , 10次重復(fù)測試,，C V < 5 % 。

電位 | 單顆粒Zeta電位測量

Zeta電位是一個(gè)表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),。在恒定電場作用下,，顆粒移動(dòng)速度與Zeta的絕對值正相關(guān)。NanoCoulter測量顆粒通過納米孔的時(shí)間從而獲得zeta電位數(shù)據(jù),，因此是*一可以做到單顆粒粒徑,、Z e t a 電位、濃度同時(shí)測量的技術(shù)平臺(tái),。

瑞芯智造 納米庫爾特雙通道顆粒分析儀